能高开发出PXI半导体逻辑测试模块Oe区域

能高电子日前开发出PXI平台的半导体逻辑测试模块(OpenATE PE16)，最高50Mhz频率，逻辑准位兼容于-1~+6V，每一逻辑脚位讯号卡有16个I/O通道，且采用Per-pin架构设计，每一I/O通道均配备有64M的测试向量内存(Vector Memory)、16组的时序设定、16组的波型(Waveform)设定，以及参数量测所需的PMU功能。

除了提供256I/O sets使用外，Active Load与per Pin PMU之全功能半导体逻辑测试。内含多循序控制指令的测试向量控制(Sequence Pattern Generator)，以及逻辑脚位讯号(Logic Pin Electronics)，用以发出待测品所需的电性讯号，并接受待测品因此讯号后所响应的电性讯号而作出产品电性测试结果的判断。

目前能高旗下的软件平台包含MTS2及GATE两大系统，硬件包含PXI可程序化FPGA母板；PXI半导体测试模块；以及测试向量控制卡三大部分。

为降低使用门坎，能高已提供免费下载MTS2软件，用户除了可藉由简单的操作接口，轻易设定自己所需的程序外，还有好用的Multisite功能，可以执行多颗IC并行测试，提高生产效率。

该公司表示，由于PXI仪器日益精进普及，用户可以找到高性能PXI模块，其中自行整合系统的功能可与现有大型的IC测试机台比拟，能提供快速且准确的测试，使用者只需花费传统设备三分之一左右的价格就可以轻松整合出合乎需求的IC测试系统。